可变角度ATR-VeeMAX III

•角度范围：30-80°连续改变
•可测试样品深度：0.4-46微米
•提供安装偏振片插槽
•可测常规样品，单分子膜，扩展原位电化学应用
•晶体类型：ZnSe, Ge, Si, ZnS
•晶体长度：20mm
*加热扩展温度：130℃